GWJD-1000型高温介电性能测量系统(四通道,4个样品)_供应产品_北京精科智创科技发展有限公司

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GWJD-1000型高温介电性能测量系统(四通道,4个样品)

  • 产品/服务:GWJD-1000型高温介电性能测量系统(四通道,4个样品)
  • 型 号:GWJD-1000
  • 单 价:面议 
  • 更新日期:2019-11-14
  • 有效期至:长期有效
  • 浏览次数:1694
产品简介

GWJD-1000型高温介电性能测量系统(四通道测试,同时测试4个样品)...

产品详细介绍
GWJD-1000型高温介电性能测量系统(四通道测试,同时测试4个样品)
 

GWJD-1000型高温介电性能测量系统(四通道测试,同时测试4个样品)

关键词:ink?url=6nFhbfa4w6Mcj2F1vn_LTuKr8-DoI2Ni7ADx6X9eKvs0XRi0MoyFroL-ZTpUh7PEyClMfTJYEpAXJBjDubADoq" target="_blank">高温介电测试温谱仪高温介电性能测量系统、高温介温谱能系统

    

产品介绍:

   GWJD-1000型高温介电性能测量系统主要应用于高温下材料的介电性能测

试与分析,包括介电常数、介电损耗、电容等参数,同时测试出测试材料的其

他阻抗参数,广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究 。

一、产品优势:

1.耐高温、1000°C不氧化,电极阻抗低、绝缘好.

2.四通道测试,可以同时测试1-4个样品,方便快捷

3.数据分析软件:提供多种扫描曲线,可以在多窗口之间切换数据

二、《符合ASTMD150和 D2149-97国际标准>>

<<符合GB/T1409-2006介电常数和介电损耗的推荐方法;》

三、产品特点

1.可以在高温、宽频、真空条件下测量固体、薄膜样品的介电性能;

2.可以分样品的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能;

3。可以测量样品的介电常数、介电损耗,电容C,损耗D,电感L,品质因数Q,阻抗Z等物理量;以实现介电常数和介电损耗随多个温度、多个频率变化的曲线,时间和电压变化的曲线;

4、可提供块体,薄膜,单样品,四样品夹具,满足不同测试要求。

主要技术指标:

测量温度: 室温-1000°C

升温斜率:2°C /min

频率范围:20-30MHZ

精度:0.05%

测量精度: ±0。1°C

控温精度:±1°CPID精准控温)

高温样品杆:耐高温、1000°C不氧化,电极阻抗低、绝缘好

测试方法:两线法或四线法

测试通道数:1-4通道

一次可测样品数:1-4个样品

样品尺寸:直径小于2-10mm,厚度小于1-10mm,样品放置位置灵活,可快捷安装和拆卸

测量精度:0.05%

AC电平:  0V 1V rms

直流偏压:0±40V/100mA

数据存储:EXCEL表格等多种格式

加热方式:电阻丝加热

真空度范围:100 Pa-1大气压

电极材料:铂金

数据传输:4USB接口

仪器通讯:USBGPIB


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